Información sobre el producto "OTU-KS-NV-065-065"
- Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
- Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP
| Altura: | 48,2 mm |
|---|---|
| Ancho: | 65,1 mm |
| Carrera: | 2 mm |
| Conforme RoHS: | Sí |
| Dimensiones exteriores (AnxPxAl): | 65,1 x 65,1 x 48,2 mm |
| Estado de entrega: | Incluye amplificador nanoVTEP, GKS (puntas de prueba con resorte) |
| Grupo de productos: | Opens Test |
| Juegos de recambio (WS): | WS Keysight |
| Longitud: | 65,1 mm |
| Mesas de prueba de vacío (VA): | VA 2070S/L, VA 3070S/L |
| Modelo: | nanoVTEP SP 2.5 pulg. |
| Serie: | OTU |
| Temperatura máx.: | 60 °C |
| Temperatura mín.: | 10 °C |
| Tipo: | Prueba sin vectores Keysight |
| Tipo de accesorios: | Accesorios customizados |
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- Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
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- Modelo: nanoVTEP SP 2.5 pulg.
- Tipo de accesorios: Accesorios customizados
- Estado de entrega: Incluye amplificador nanoVTEP, GKS (puntas de prueba con resorte)
- Ancho: 65,1 mm
- Altura: 48,2 mm
- Temperatura mín.: 10 °C
- Temperatura máx.: 60 °C
- Conforme RoHS: Sí
- Carrera: 2 mm
- Longitud: 65,1 mm
- Dimensiones exteriores (AnxPxAl): 65,1 x 65,1 x 48,2 mm
- Mesas de prueba de vacío (VA): VA 3070S/L, VA 2070S/L
- Juegos de recambio (WS): WS Keysight